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Difracción, Dispersión y Absorción de Rayos X Aplicadas al Estudio de Nanomateriales

Publicada el 23 DE ABRIL 2013, 10:33 En Cursos de Posgrado.

El curso se desarrollará del 3 al 14 de Junio, de lunes a viernes de 9.00 a 13.00 horas, y tendrá una duración de 40 horas de cursado.

Docentes

  • Dr. Aldo F. Craievich, Universidad de San Pablo, Brasil
  • Dr. Diego G. Lamas, Universidad Nacional del Comahue y CONICET, Argentina

Contenidos

Fuentes de rayos X: Tubos de rayos X convencionales y con ánodo giratorio. Rayos X a partir de fuentes de luz de sincrotrón: características generales. Anillos de almacenamiento de electrones. Descripción y función de los principales componentes. Características de la luz emitida. Líneas de luz. Descripción general, óptica y detectores de fotones.

Difracción de rayos X de polvos: Fundamentos de la difracción de rayos X (XRD). Teoría cinemática de la difracción de rayos X. La técnica de difracción de rayos X de polvos (XPD): teoría básica y aspectos experimentales. Difractómetros convencionales de laboratorio: la geometría de haz convergente. XPD con luz sincrotrón: la geometría de haz paralelo. Ventajas del uso de la luz sincrotrón. Aplicaciones más importantes. Análisis por el método de Rietveld.

Dispersión de rayos X a pequeños ángulos: Aspectos teóricos y experimentales de la técnica de difusión de rayos X a pequeños ángulos (SAXS) por transmisión. Sistemas de dos densi-dades electrónicas. Ley de Porod. Sistemas diluidos de partículas. Ley de Guinier. Soluciones concentradas. Sistemas fractales. Setup experimental. Aplicaciones al estudio de sistemas de nanoparticulas inorgánicas y orgánicas, procesos de agregación en matrices sólidas y líquidas, etc. Técnica SAXS anómalo o resonante (ASAXS).

Reflectometría de rayos X y dispersión de rayos X en incidencia rasante: Aspectos teóricos de la reflexión de rayos X (XR) por materiales. Setup experimental. Aplicaciones a estudios de láminas delgadas soportadas. Determinaciones de la densidad media, espesor y de rugosidad de láminas delgadas. Aspectos teóricos y experimentales de la técnica SAXS en incidencia rasante (GISAXS). Setup experimental. Aplicaciones a estudios estructurales de láminas finas nanoestructuradas, con nanopartículas o nanoporos. Sistemas isotrópicos y anisotrópicos. Modelaje de curvas de GISAXS para sistemas de nanopartículas diluidos o concentrados.

Absorción de rayos X: Relación entre las propiedades del coeficiente de absorción y la estructura electrónica de los átomos: Técnica de XANES. Relación entre la estructura fina de los espectros de absorción de rayos X y la estructura local de la materia condensada: Técnica EXAFS. Ecuación general de EXAFS. Métodos de medición y setup experimental. Programas para análisis de la estructura local de materiales a partir de datos de EXAFS. Aplicaciones.

Modalidad

Clases teóricas y prácticas (resolución de problemas y análisis de datos).

Nivel

Alumnos de Posgrado y de grado avanzado

Cupo

50 alumnos. Los alumnos del CCT - CONICET Mendoza y del posgrado avalante tendrán prioridad para el curso.

Fechas y carga horaria

Del 3 al 14 de Junio, de lunes a viernes de 9 a 13Hs. Tendrá una duración de 40 horas de cursado.

Modo de evaluación

Examen escrito a la finalización del curso.

Arancel

Becarios doctorales de CCT-CONICET-Mendoza y alumnos del Posgrado avalante: $400.

Otros alumnos: $500.

Lugar de realización del curso

CCT CONICET Mendoza, Sede CRICYT, Av. Ruiz Leal s/n, Pque. Gral. San Martín, 5500 Mendoza, Argentina.

Preinscripciones

Del 16 de Abril al 10 de Mayo. Enviar curriculum vitae (máximo 3 páginas) y formulario de inscripción a Diana Aloia cursosav@mendoza-conicet.gov.ar. La selección de los alumnos preincriptos será realizada en base a los antecedentes presentados una vez cerrada la inscripción.